业务痛点
1)企业未配备自动检测设备,芯片质量依靠人工抽检, 存在漏检,且耗时长、劳动强度大、误检率高2)每天生产芯片数量庞大,生产设备无法存储如此庞大的数据,未对芯片图片进行分析,缺少优化工艺的依据
解决方案
1)基于Intewell-Hyper II的边缘控制器融合视觉检测算法及运动控制2)机器视觉、智能控制一体化部署,集成定位、测量、识别、缺陷、颜色等多行业视觉分析算法
客户价值
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1)视觉替代人工肉眼处理,解决效率低下、缺陷难回溯、缺陷检测率受人员状态影响等问题
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2)大数据分析,根据现场机器给定参数预测产品质量,优化工艺参数户
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3)一机多用,一台边缘控制器替代PLC控制器+工控机,降低设备成本
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4)共享内存方式实现视觉与实时控制快速数据交互,提高生产节拍